1）主要技術(shù)參數(shù)：

2中心波長精度：優(yōu)于±1nm；

2峰值波長精度：優(yōu)于±1nm；

2光譜帶寬測(cè)量精度：優(yōu)于±0.5nm；

2相對(duì)光譜響應(yīng)度測(cè)量精度：優(yōu)于±2%；

2非均勻性標(biāo)定誤差：優(yōu)于±1%；

2像素不均勻性測(cè)量精度：1%；

2）應(yīng)用領(lǐng)域：

2線/面陣/TDI CCD以及CMOS等陣列光電探測(cè)器的光譜/輻射響應(yīng)性能測(cè)試和標(biāo)定。

3）成功應(yīng)用案例：

2中科院新疆某研究所

2航天某院某研究所

2西北某大學(xué)

4）產(chǎn)品實(shí)物圖片：

↑↑ 航天某院某所敏感器大面陣CCD關(guān)鍵參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)實(shí)物圖片

↑↑ 中科院新疆某研究所CCD光電參數(shù)測(cè)試設(shè)備實(shí)物圖片

↑↑ 紅外探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)原理/結(jié)構(gòu)圖

↑↑ 紅外探測(cè)器光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)物圖片